Критически важные процессы: собственные производственные мощности ДОЛОМАНТ и кооперация
стр. 4 278 0 0Новости российского рынка
стр. 8 230 0 0Кремниевая и арсенид-галлий-алюминиевая технология: базовый ряд 3D М ЭФ СБИС VCSЕL и функциональных 3D М ФЭ СБИС для 3D М ФЭФ М. Часть 4
стр. 18 Сведе-Швец Валерий,Сведе-Швец Владислав,Зиновьев Максим 395 0 0Радиолокационные обнаружители движущихся целей нового поколения
стр. 24 Бартенев Владимир 696 0 0Теплоотводы на основе нитрида алюминия с алмазным покрытием
стр. 32 Непочатов Юрий,Городецкий Дмитрий,Абраамян Артём,Самусов Илья,Окотруб Александр 463 0 0Обзор и отраслевые проблемы беспроводного Интернета вещей
стр. 36 Нараянан Кайлаш 281 0 0Тенденции развития рынка аддитивных технологий в России: настольные 3D-принтеры
стр. 42 Арапова Ирина,Кучерова Полина 455 0 0Новое поколение российских систем для тестирования аэрокосмической техники
стр. 46 Зайченко Сергей 638 0 0О принципах выбора щитового климатического оборудования
стр. 52 Трутко Константин 430 0 0Современные ИС Texas Instruments для космических приложений
стр. 58 Петропавловский Юрий 375 0 0Энергонезависимая память nvSRAM от компании Cypress
стр. 64 Тузов Александр 702 0 0Соединители с проволочными контактами: оптимальное решение задачи миниатюризации
стр. 68 Дугин Евгений 408 0 0Применение инструментального усилителя для мостового включения двух мощных ОУ. Часть 3
стр. 74 Кузьминов Алексей 309 0 0Ультразвуковой дальномер-сигнализатор на ПЛИС
стр. 82 Редькин Павел 428 0 0Редактор RightPCB – современный инструмент эффективного проектирования ПП
стр. 88 Попов Сергей 317 0 0Экспериментальное исследование развязки между микрополосками
стр. 92 Васин Михаил,Марущенко Денис,Шемшур Сергей 300 0 0САПР AWR: сравнение результатов моделирования с экспериментом. Алгоритмы обработки данных
стр. 96 Никулин Сергей,Торгованов Алексей 601 0 0«Опасность» силовой электроники
стр. 106 Новыш Пётр 308 0 0В Москве прошёл ежегодный форум Altium «Инновации в проектировании электроники»
стр. 108 369 0 0Электроника для транспорта в Сокольниках
стр. 110 246 0 0Актуальные вопросы аттестации испытательного оборудования
стр. 112 317 0 0