Новости российского рынка
стр. 4 266 0 0Фотонная и релятивистская энергетика на основе LPE i-GaAs-монокристаллов
стр. 12 Войтович Виктор,Гордеев Александр,Звонарёв Анатолий 510 0 0Новый метод монтажа изделий на керамической подложке
стр. 20 Борисова Тамара,Оленина Надежда,Серёгин Александр 380 0 0Современные МЭМС-продукты компании Analog Devices. Часть 2
стр. 24 Петропавловский Юрий 561 0 0Современные 32-разрядные ARM-микроконтроллеры серии STM32: система прерываний
стр. 30 Вальпа Олег 517 0 0Двухканальная аналоговая ИС с программируемыми параметрами
стр. 34 Дворников Олег,Чеховский Владимир,Дятлов Валентин,Прокопенко Николай 477 0 0Унифицированные полосовые LC-фильтры, выполненные по интегральной технологии
стр. 38 Борейко Денис,Хроленко Татьяна,Яковлев Андрей 527 0 0Методы расширения полосы пропускания осциллографов реального времени
стр. 44 Tektronix, Inc. 565 0 0Архитектура систем тестирования микросхем компании ABI
стр. 50 Флетчер Ян 322 0 0Контрольные испытания датчиков угловой скорости и кажущегося ускорения
стр. 52 Гаманюк Дмитрий 658 0 0Цепи стабилизации для однотактных преобразователей напряжения
стр. 58 Грошева Людмила 434 0 0Электрическая схема с коммутирующими IGBT-транзисторами для газоразрядных ламп
стр. 64 Мандрыко Юрий 734 0 0Компактная модель транзистора: план действий для успешной разработки усилителя
стр. 70 Гасселинг Тони 587 0 0Как упростить проектирование усилителей класса E с использованием синтеза
стр. 78 Озалас Мэтт 773 0 1Solid Edge в приборостроении
стр. 82 Демидов Павел 331 0 0Новое в OrCAD 16.6-2015
стр. 86 Сергеев Анатолий 376 0 0РобоСектор-2015: объединяя опыт и технологии
стр. 92 292 0 0Intel в России празднует 50-летие закона Мура
стр. 94 293 0 0Точные измерения – основа качества и безопасности 2015
стр. 98 278 0 0«Комплексная безопасность–2015»
стр. 102 258 0 0Форум SEMICON Russia: вся российская микроэлектроника крупным планом
стр. 104 303 0 0Чем заменить P-CAD?
стр. 112 Хоменко Влад 611 0 0