Фильтр по тематике
Актуальные вопросы аттестации испытательного оборудования
Практически каждый руководитель лаборатории сталкивается с необходимостью аттестации испытательного оборудования. При этом возникает множество вопросов, по сути сводящихся к элементарной экономии материальных издержек. На самые часто встречающиеся вопросы отвечает главный метролог АО «ТЕСТПРИБОР» – Халид Дарвинович Качаев. 20.06.2017 СЭ №6/2017 622 0 0
Электроника для транспорта в Сокольниках
В рамках выставки «Электроника-Транспорт 2017» 5 апреля 2017 года прошла ежегодная конференция, организованная журналом «Современная электроника» и посвящённая применению электроники на транспорте – «Электронные модули и компоненты для транспортного приборостроения и транспортных систем». 20.06.2017 СЭ №6/2017 485 0 0
В Москве прошёл ежегодный форум Altium «Инновации в проектировании электроники»
23 мая 2017 года в Москве в Сокольниках компания Altium Limited, ведущий мировой разработчик в области автоматизации проектирования электронных устройств, провела ежегодный форум «Инновации в проектировании электроники». 20.06.2017 СЭ №6/2017 671 0 0
«Опасность» силовой электроники
Воспоминания инженера о работе с Виктором Васильевичем Екимовым и об опасностях, которые несла усилившаяся роль партии в коммунистическом строительстве. 20.06.2017 СЭ №6/2017 647 0 0
САПР AWR: сравнение результатов моделирования с экспериментом. Алгоритмы обработки данных
Целью данной статьи является ознакомление с основами интеграции NI AWR Design Environment с измерительной аппаратурой Rohde&Schwarz и написание собственных алгоритмов обработки данных. Представленные алгоритмы позволяют расширить и без того богатые возможности программного обеспечения, тем самым адаптируя его к специфическим задачам. В итоге получается существенно сократить издержки на цикл разработки и ускорить выпуск готовой продукции. 20.06.2017 СЭ №6/2017 1493 0 0
Экспериментальное исследование развязки между микрополосками
В статье представлены экспериментальные результаты измерения уровня развязки между микрополосковыми линиями в зависимости от применяемой конфигурации заземляющих отверстий в разделительной земляной дорожке. 20.06.2017 СЭ №6/2017 786 0 0
Редактор RightPCB – современный инструмент эффективного проектирования ПП
Статья продолжает цикл, посвящённый первой отечественной САПР электроники Delta Design. В статье на простых примерах проектирования конструкции печатной платы (ПП) показана работа редактора ПП Delta Design RightPCB. В статье описан функционал, доступный в версии Delta Design 2.1. 20.06.2017 СЭ №6/2017 618 0 0
Ультразвуковой дальномер-сигнализатор на ПЛИС
Предлагаемая статья содержит описание портативного электронного устройства – дальномера, выполненного на базе специализированного промышленного ультразвукового датчика расстояния (сонара). В качестве аппаратной платформы для обработки сигналов с датчика в устройстве используется ПЛИС. 20.06.2017 СЭ №6/2017 949 0 0
Применение инструментального усилителя для мостового включения двух мощных ОУ. Часть 3
В третьей части статьи приведены измеренные АЧХ пассивного тонкомпенсированного регулятора громкости с НЧ-коррекцией, использованного в усилителе. Подробно рассказано об источнике питания усилителя, в котором применены стабилизаторы напряжений, основанные на мощных полевых транзисторах и ОУ, оборудованные электронным фильтром и существенно подавляющие пульсации выпрямленного напряжения. 20.06.2017 СЭ №6/2017 666 0 0
Соединители с проволочными контактами: оптимальное решение задачи миниатюризации
В статье описаны соединители российского производства, являющиеся оригинальным решением проблемы соединений в современных малогабаритных изделиях СВЧ-микроэлектроники с плотной компоновкой. 20.06.2017 СЭ №6/2017 836 0 0
Энергонезависимая память nvSRAM от компании Cypress
В статье, посвящённой энергонезависимой памяти nvSRAM компании Cypress, рассказывается об архитектуре nvSRAM, характеристиках и особенностях применения данной памяти на примере построения конкретных устройств. 20.06.2017 СЭ №6/2017 1859 0 0
Современные ИС Texas Instruments для космических приложений
В статье коротко рассмотрена история создания полупроводниковых приборов компании Texas Instruments. Приведена номенклатура продуктов высокой надёжности и рассмотрены особенности современных микросхем космического назначения. 20.06.2017 СЭ №6/2017 840 0 0