Новости российского рынка
стр. 4 241 0 0Василий Шпак: «Консорциум – сквозной инструмент развития электронной промышленности»
стр. 12 339 0 0Сетевая доверенная платформа «Цифровая метрология» как основа цифровизации промышленности России
стр. 16 Белоусов Игорь,Перевощиков Владислав 289 0 0Системы управления с «предвидением»
стр. 20 Галицын Алексей,Рождественский Александр,Рождественский Дмитрий 270 0 0Несквозные отверстия и микроотверстия в печатной плате
стр. 26 Акулин Александр 269 0 0Современные достижения в производстве SiC- и GaN-приборов силовой электроники
стр. 32 Токарев Владимир,Котов Владимир 408 0 0Беспроводная передача энергии большой мощности для устройств, работающих в условиях индустриальной среды. Часть 1
стр. 36 Надлер Андреас,Сом Кем 520 0 0Ключевые особенности программируемых источников питания GENESYS+
стр. 40 Лисин Василий 311 0 0Функция Deembedding в осциллографах R&S RTP: учёт и компенсация амплитудно-фазовых искажений для пробников и измерительной оснастки. Часть 1
стр. 46 Лемешко Николай,Струнин Павел,Горелкин Михаил 268 0 0Пирометр на ПЛИС. Часть 2
стр. 54 Редькин Павел 247 0 0Можно ли обойтись собственными испытательными программами?
стр. 62 Фарнхэм Кэйли 223 0 0Проектирование для производства (DFM). Часть 1. Выбор материалов
стр. 66 Зырин Игорь,Марракчи Дэвид 412 0 0Александр Шокин и советская радиоэлектроника. Что успел сделать для отрасли за 60 лет работы выдающийся специалист?
стр. 72 Бартенев Владимир 399 0 0«Микроэлектроника 2019»
стр. 78 264 0 0Разработка и поддержка стратегии развития электронной отрасли
стр. 80 Лебедев Илья 252 0 0СВОДНОЕ СОДЕРЖАНИЕ ЖУРНАЛА ЗА 2019 ГОД
стр. 84 230 0 0