Фильтр по тематике

Воздействие отдельных ядерных частиц на интегральные схемы

Проанализированы условия возникновения в интегральных схемах кратковременных импульсов, вызванных отдельными ядерными частицами. Приведены упрощённые модели оценки ионизационной реакции при воздействии отдельных ядерных частиц и выходной электрической реакции изделий. Представлены результаты экспериментальных исследований выходной реакции интегральных микросхем, широко применяемых в радиоэлектронной аппаратуре.

Если вам понравился материал, кликните значок — вы поможете нам узнать, каким статьям и новостям следует отдавать предпочтение. Если вы хотите обсудить материал —не стесняйтесь оставлять свои комментарии : возможно, они будут полезны другим нашим читателям!

Комментарии
Рекомендуем

Реклама: ИнСАТ партнёр и дистрибьютор Атомик Софт
ООО «ИнСАТ»  ИНН 7734682230  erid = 2SDnjeFzYkB
Реклама: ИнСАТ партнёр и дистрибьютор Атомик Софт (мобильная версия)
ООО «ИнСАТ»  ИНН 7734682230  erid = 2SDnjeo8HfR
  Подписывайтесь на наш канал в Telegram и читайте новости раньше всех! Подписаться