Данная статья представляет собой обзор материалов, посвященных тестированию плат и устройств по интерфейсу JTAG. В третьей части статьи продолжается рассмотрение команд тестирования, выдаваемых по интерфейсу JTAG, и структуры BSDL-файла, а также даётся описание «привязки» битов регистра сканирования к выводам микросхемы.
Если вам понравился материал, кликните значок
— вы поможете нам узнать, каким статьям и новостям следует отдавать предпочтение. Если вы хотите обсудить материал —не стесняйтесь оставлять свои комментарии
: возможно, они будут полезны другим нашим читателям!