Современная электроника №4/2026

ВОПРОСЫ ТЕОРИИ 60 WWW.CTA.RU СОВРЕМЕННАЯ ЭЛЕКТРОНИКА • № 4 / 2026 филд показал, что экситон-фотонный гамильтониан имеет тот же вид, что у поляритонов. Поэтому экситоны явля- ются физическим примером общего класса поляритонов. Иными словами, смешанные свет-вещество моды, опи- санные С. Пекаром на математическом и физическом уровнях, Хопфилд облёк в компактную каноническую форму- лировку, которой дал общее название. Отметим, что это была одна из пер- вых работ Джона Хопфилда, напи- санная им в возрасте 25 лет. В даль- нейшем он переключился на другие области исследований и в 2024 году получил Нобелевскую премию за соз- дание ассоциативной нейронной сети, способной хранить и восстанавливать большие шаблоны данных. Теория С.И. Пекара развивается и сегодня. Например, в [20] рассмотрены варианты решений «уравнений Ландау- Пекара» доказывающие существование дозвуковых бегущих волн. Теория аномальных дополнитель- ных световых волн в кристаллах, разработанная С.И. Пекаром, концеп- туально была близка идеям И.Е. Там- ма, опубликованным в 1932 г. Однако эти направления развивались неза- висимо, и Соломон Пекар не работал непосредственно с Игорем Таммом и не ссылался прямо на его статьи. Вме- сте с тем подход Пекара естественным образом вписывается в теоретические работы учителя Тамма Л.И. Мандель- штама и его ученика В.Л. Гинзбурга. В своих статьях Гинзбург ссылается на теорию Пекара [21, 22]. В свою оче- редь, С. Пекар цитирует статью Анри Амвросьевича Рухадзе, ученика Иго- ря Тамма [23]. Экспериментальное доказатель- ство существования описанных выше дополнительных аномальных свето- вых волн в кристалле в области экси- тонного поглощения было продемон- стрировано в работе М.С. Бродина и С.И. Пекара в 1960 году [24]. В своих экспериментах авторы использовали достаточно простой, но оригинальный метод. Они изме- ряли интенсивность света, прошед- шего через тонкую пластинку антра- цена при криогенных температурах (T = 20 K ) в зависимости от её толщи- ны. Результаты этих измерений пока- заны на рис. 4. По оси ординат отложе- ны значения десятичного логарифма отношения J/J 0 , где J 0  – интенсивность прошедшего света при частоте, распо- ложенной рядом с линией, J – интен- сивность прошедшего света с часто- той, попадающей внутрь линии. В этих опытах использовались пла- стины различной толщины от 0,01 до 0,3 мкм. Чёрные точки с погреш- ностями соответствуют результатам тридцати независимых измерений на разных кристаллах. Сглаженная кри- вая показывает чёткие осцилляции интенсивности с периодом по тол- щине примерно 0,058 мкм. Если бы в кристалле существовала только одна световая волна с конкретной поляри- зацией, то интенсивность прошедше- Рис. 4. Экспериментальные результаты зависимости интенсивности прошедшего света от толщины пластинки антрацена при Т = 20 К (толщина в микронах) Рис. 5. Установка для исследования дополнительных волн Пекара Таблица Обозначение Описание L Лазерный источник λ/2 Полуволновая пластинка P1 Первый поляризатор F1 Нейтральные фильтры, ослабляющие сигнал L1 Линза перед кристаллом O1 Микрообъектив перед кристаллом P2 Второй поляризатор после кристалла L2 Линза, фокусирующая пучки в плоскости щелей S Перекрёстные щели P Вращающаяся призма L3 Линза перед монохроматором DFS-12 Двойной монохроматор SIT Светочувствительная SIT-матрица на выходе монохроматора OMA Оптический многоканальный анализатор F2 Фильтры в ветви визуального наблюдения O2 Длиннофокусный объектив в наблюдательной ветви M1 Зеркало M Микроскоп для наблюдения движения пятен He Жидкий гелий в криостате F Фокальная плоскость, где наблюдаются пятна прошедших пучков α Угол клина образца CdS (2,48·10 – ⁴ rad) θ Угол падения света на кристалл φ Угол отклонения выхода одного из прошедших лучей относительно опорного направления T Положение поперечного экситона (Transverse Exciton)