О разработке программ и методик аттестации испытательного оборудования
В статье анализируются типичные ошибки, возникающие при разработке программ и методик аттестации испытательного оборудования, рассматриваются конкретные примеры и предлагаются рекомендации по устранению выявленных недостатков. СЭ №5/2018 188 0 0Цифровой запоминающий характериограф полупроводниковых приборов Л2-100 ТЕКО
В статье описывается новый цифровой запоминающий характериограф полупроводниковых приборов Л2-100 ТЕКО, который может служить современной заменой легендарного измерителя Л2-56 и обладает превосходным соотношением «цена – возможности». СЭ №9/2014 43 0 0