Фильтр по тематике
электроника
Перенос тестовых сценариев между этапами моделирования СБИС «Система-на-кристалле» и этапом функционального контроля
В статье рассмотрена проблема переноса и запуска программных тестовых сценариев, разработанных на этапах моделирования СБИС- и ПЛИС-прототипирования на реальную микросхему. Рассматриваются особенности последующего использования этих тестов в ходе испытаний готовых микросхем, дальнейшей разработки программного обеспечения, а также дальнейшей поддержки в виде набора для разработчика (SDK). СЭ №5/2021 382 0 0