Фильтр по тематике
электроника
Тестирование встраиваемых систем: разработка тестового ПО или JTAG Functional Test?
В статье рассказывается о преимуществах интеграции технологии JTAG Functional Test, которую можно использовать в качестве замены встраиваемому ПО для тестирования. Приведён пример крупной финской инжиниринговой компании Etteplan, внедрившей новую технологию тестирования. СЭ №5/2020 158 0 0
электроника
Работа в JTAG Maps для Altium Designer
В статье описывается процесс работы с расширением JTAG Maps для пакета проектирования электронных устройств и плат Altium Designer. Программа JTAG Maps позволяет разработчику схем уже на этапе проектирования оценить возможность доступа периферийного (граничного) сканирования к цепям. СЭ №5/2018 97 0 0
электроника
Использование бесплатной программы JTAG Live Buzz в качестве тестового пробника
В статье рассказывается о бесплатной программе JTAG Live Buzz, которая использует для прозвонки технологию периферийного сканирования: тестовый доступ к ножкам микросхем осуществляется с помощью JTAG-интерфейса. СЭ №5/2015 161 0 0