Фильтр по тематике
электроника
Зачем нужен анализ отказов в микроэлектронике
В статье описаны современные методы анализа отказов, применяемые при разработке и производстве микросхем. СЭ №3/2018 317 0 0
автоматизация
Система контроля технологических параметров на литейных установках Ревдинского завода по обработке цветных металлов
Представленная система решает задачи мониторинга технологических параметров, оперативного доведения результатов анализа проб, создания соответствующих баз данных, предупреждения аварий оборудования, способствуя, в конечном счёте, повышению качества выпускаемой продукции. Описаны особенности технологического процесса, а также аппаратные и программные решения, используемые при построении системы.
СТА №1/2007 1018 0 0
